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吉时利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半导体特性分析系统

产品概况:

吉时利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析,吉时利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半导体特性分析系统具有高精度和亚fA级的分辨率。吉时利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半导体特性分析系统提供了最先进的系统集成能力,包括完整...

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详细先容
     吉时利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析,吉时利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半导体特性分析系统具有高精度和亚fA级的分辨率。吉时利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半导体特性分析系统提供了最先进的系统集成能力,包括完整的嵌入式PC机,Windows操作系统与大容量存储器。吉时利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半导体特性分析系统自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程,这样用户可以更快地开始分析测试结果。吉时利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半导体特性分析系统其它一些特征使得应力测量功能能够满足各种可靠性测试的需求。以下是艾克赛普为您先容吉时利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半导体特性分析系统的特点,如有相关问题,请联系长沙艾克赛普仪器仪表企业www.hncsw.net,联系电话:0731-84284278 84284378。
吉时利 KEITHLEY 4200-SCS/F 图片
吉时利 KEITHLEY 4200-SCS/F 半导体特性分析系统的特点:
* 直观的、点击式Windows操作环境
* 独特的远端前置放大器,将SMU的分辨率扩展至 0.1fA
* 用于高级半导体测试的新型脉冲与脉冲式I-V功能
* 集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡
* 内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储
* 独特的浏览器风格的App界面,根据器件的类型来安排测试,可以实行多项测试并提供测试序列与循环控制功能
* 内置了Stress/Measure,循环和数据分析功能,通过鼠标点击方式就可进行可靠性测试,包括5个JEDEC规范的样品测试
* 支撑 Keithley590 型与 Agilent 4284/4294型C-V仪、Keithley开关矩阵与Agilent 81110脉冲发生器等多种外围设备
* 硬件由 Keithley交互式测试环境(KITE)来控制,用户测试模块功能,可用于外接仪表控制与测试平台集成,是KITE功能的扩充
* 包括驱动App,支撑CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300,Micromanipulator 的8860自动和手动探针台
* 支撑先进的半导体模型参数提取,包括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso
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