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布鲁克Bruker M2 BLIZZARD X射线荧光光谱仪

产品概况:

布鲁克Bruker M2 BLIZZARD X射线荧光光谱仪是布鲁克企业最新推出的一款微区X射线荧光光谱仪,依据ASTMB568和DIN/ISO 3497,对材料成分和多层涂层厚度进行无损分析。布鲁克Bruker M2 BLIZZARD X射线荧光光谱仪采用开槽设计,非常适用于扁平形状和尺寸过大的样品,例如...

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详细先容
布鲁克Bruker M2 BLIZZARD X射线荧光光谱仪是布鲁克企业最新推出的一款微区X射线荧光光谱仪,依据ASTMB568和DIN/ISO 3497,对材料成分和多层涂层厚度进行无损分析。布鲁克Bruker M2 BLIZZARD X射线荧光光谱仪采用开槽设计,非常适用于扁平形状和尺寸过大的样品,例如大型印刷电路板。布鲁克Bruker M2 BLIZZARD X射线荧光光谱仪采用全新的、世界领先的XSpect ProApp进行控制。
PCB分析的理想解决方案。
主要特性:开槽构型,带可伸长的“超大尺寸”样品台;可以调节槽缝间隙(10或20毫米);设有大型、耐用的样品托盘,用于样品定位;全新优化XSpect Pro操作App;最先进的XDataApp用于应用程序,标准样品与数据库管理;可自定义设置用户界面和测试结果界面;具备波谱自动保存功能,用于测量后结果的再处理以及存档;用户设定公差,可以方便地判定“合格/不合格”;“峰值查找器”,用于定性分析未知样品;App含有测试报告模板以供客户编辑使用;配置工业强度的脚踏开关,用于“开始/停止”测量(可选项);可完全设置SPCApp,配合客户工艺需求(可选项);仪器设计简洁坚固,只需一条USB电缆与PC连接。
以下是艾克赛普为您先容布鲁克Bruker M2 BLIZZARD X射线荧光光谱仪的技术参数,如有相关问题,请联系长沙艾克赛普仪器仪表企业www.hncsw.net,联系电话:0731-84284278 84284378。
技术参数:M2 BLIZZARD 的两种探测器选项。可选用比例计数器(PC)或 高分辨率硅漂移探测器(SDD)。激发:微焦点,高性能,带侧窗,钨靶。高电压:50 kV,50W。探测器:大面积正比计数器,感应面积1100mm,能量分辨率<950eV(Mn-K)。选配探测器:高性能Peltier冷却XFlash硅漂移探测器,感应面积30mm2,能量分辨率<150eV,(Mn-Ka)。光斑尺寸:固定或4个自由切换,?0.1到1.5mm;其他准直器:例如槽式。样品视图:高分辨率彩色摄像系统,放大倍数~30倍。样品台:手动塑料样品托盘,Z轴自动聚焦,行程:30mm。定量分析:总体分析:基于标样的经验系数法模式,无标样的FP法(基本参数法)模式;镀层分析:FP-基本参数法模式。供电:110/230 VAC,50/60 Hz,最大功率150W。尺寸(宽x深x高)为1055x688x430mm。重量75kg。
如果你需要布鲁克Bruker M2 BLIZZARD X射线荧光光谱仪及布鲁克品牌仪器、或者其他品牌仪器,均可联络我司销售部门:0731-84284278 84284378。
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